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SP-SOE测试仪


 

200710151493781633.jpg (17316 字节)

 
SP-SOE测试仪是在我公司系列产品基础上开发 成功的高精度开关量信号发生装置。 时间基准信号采用计算机的CPU主频信号,为GHZ数量级,时间间隔极其准 确,基本上是零误差。 设备可根据需要设置50个长度的脉冲序列,满足不同领域的测试信号要求。

设备提供了丰富的功能,可进行设备通道试验等,方便使用。
设备可直接与DCS系统的S.O.E卡件连接,也可直接或间接与其它设备连接。

本设备可用于测试DCS系统S.O.E卡件的时间分辨率,DCS系统的站间同步等技术指标。
本设备也适用于其它设备如故障录波装置的开关量事件分辨率等的测试。

性能指标:

通道数:4通道
最小时间间隔:0.1ms
误差:不大于0.01ms
连续脉冲串数量:50个
可输出时间范围:0.1~75ms
耐压:DC100V

 

                              

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